
- Bönner, Arno
- Riedl, Martin
- Wenig, Stefan
Digitale SAP®-Massendatenanalyse
- Risiken erkennen - Prozesse optimieren
- Kartoniert,
- Erich Schmidt Verlag
- (2011)
40,30 €
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Ob für risikoorientierte Prüfungen oder betriebswirtschaftliche Auswertungen mit Fokus auf Prozessen - die durch ERP-Systeme gesammelten Datenbestände in Unternehmen sind von überaus hohem Wert. Doch wer aus diesem Schatz relevantes Material filtern und effizient nutzen will, steht oft vor einer Suche nach der berühmten Nadel im Heuhaufen.Leser erfahren in diesem Kompendium von Arno Bönner, Martin Riedl und Stefan Wenig, wie sie große SAP® Datenmengen strukturiert elektronisch auswerten und anal ...
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DETAILS
- Digitale SAP®-Massendatenanalyse
- Risiken erkennen - Prozesse optimieren
- Bönner, Arno, Riedl, Martin, Wenig, Stefan
- Kartoniert, 265 S.
- m. zahlr. Abb.
- Sprache: Deutsch
- 235 mm
- ISBN-13: 978-3-503-11652-2
- Titelnr.: 30966582
- Gewicht: 420 g
- Erich Schmidt Verlag (2011)
Herstelleradresse
Schmidt Berlin
Genthiner Straße 30 G|10785|Berlin|DE
E-Mail: Vertrieb@esvmedien.de
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